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先進的激光阻隔時間分析技術(LOT)配合專業圖像分析技術,可快速準確地進行從納米到微米的粒度、粒形分析:
- 監測動力學過程
- 通過記錄大小vs形狀繪制多維數據
- 分析復雜數據以反應分布中的次要分布
- 通過從數據庫中調用記錄圖片來識別分布中的單個粒子
- 生成標準體積和數量分布結果
- 通過使用視頻的精密動態圖像分析技術,準確描述非球形材料
- 測量結果與顆?;蚪橘|的物理光學特性無關
EyeTech粒度分析儀
010-51627740